世界上第一台单芯片FT-IR光谱仪在测试、测量和计量领域获奖

埃及开罗--为工业和消费应用提供基于IC和MEMS的解决方案的主要供应商Si-Ware Systems（SWS），凭借其MEMS FT-IR光谱仪获得了测试、测量、计量类的著名Prism奖。

凭借一个基于MEMS的单片式迈克尔逊干涉仪、创新的专用电路和多功能软件，SWS的MEMS FT-IR光谱仪是世界上第一个单片式FT-IR光谱仪。这种小型化、低成本的模块可以被集成到各种系统中，用于需要定性和/或定量材料分析的应用。

光子学创新棱镜奖是一个领先的国际竞赛，表彰市场上最好的新光子产品。多年来，棱镜奖已收到来自全球35个国家的申请。申请由领先的行业专家、风险资本家、知名人士和远见卓识者组成的小组进行评审。被德国OptecNet命名为 "光子学奥斯卡 "的棱镜奖，是对光子学行业最佳成果的庆祝。

SWS在两个类别中入围。光学和光学元件以及测试、测量、计量。该奖项于昨晚在旧金山举行的Photonics West会议期间的宴会上宣布并颁发。

傅立叶红外光谱仪由一个MEMS芯片组成，尺寸为1 x 1 cm2，包含所有的光学元件。电子接口是一个单独的ASIC，由SWS的ASIC解决方案部门设计和生产。该系统的其他组件是一个光电探测器、光纤和软件。最初的系统包含在一个模块中，通过USB接口供电，消耗不到150毫安。该模块的尺寸为8 x 6 x 3 cm3，重量不到150克。所有这些使它成为世界上最小和功耗最低的FT-IR光谱仪。

"SWS光学MEMS技术部经理Bassam Saadany博士说："SWS很荣幸获得这个奖项，其MEMS FT-IR光谱仪被公认为是业界领先的新产品。"这一认可验证了SWS的傅立叶变换红外光谱仪代表了光谱学的范式转变，并提供了实现真正的便携式和手持式光谱仪的机会"

该FT-IR光谱仪是基于SWS的硅集成微光学系统技术（SiMOST™）开发和发布的第一个产品。SiMOST是一个完整的平台，能够使用经过验证的MEMS元件创建单片光学系统。多个光学MEMS结构可以使用深度反应离子蚀刻（DRIE）在SOI晶圆上进行图案化和蚀刻。然后将这些结构进行晶圆级封装和切分，以创建一个单片光学系统。

傅立叶红外光谱仪的评估模块SWS62211-P今天可以从SWS购买。如果您对评估FT-IR光谱仪感兴趣，请联系SWS。

西部光电子展上的SWS

SWS在本周至今天（2月6日）在旧金山举行的Photonics West 2014上展示其MEMS FT-IR光谱仪。SWS的展位在莫斯康尼中心的北厅D（4644号展位）。

关于SWS

SWS是一家独立的无晶圆厂半导体公司，提供广泛的产品设计和开发解决方案，定制ASIC开发和供应，以及标准产品。SWS有三个部门。ASIC解决方案--MEMS接口ASIC；计时产品--全硅振荡器；以及光学MEMS技术--MOEMS产品。ASIC解决方案部门提供定制的ASIC开发和供应，专门用于MEMS接口。计时产品部在其全硅自补偿振荡器（SCOTM）中开发了一项突破性技术。光学MEMS技术部门提供其独特的平台--硅集成微光学系统技术（SiMOSTTM），允许在硅上创建多个光学元件。欲了解更多信息，请访问http://www.si-ware.com。

新闻咨询，请发电子邮件至 press@si-ware.com |查看所有新闻稿

‍